IC的ESD测试方法
主要有四种ESD测试组合：
一. 输入/输出 pin相对于VDD/VSS测试。
注解：
（1）所有输入/输出PAD相对于地的正向ESD脉冲测试。
（2）所有输入/输出PAD相对于地的负向ESD脉冲测试。
（3）所有输入/输出PAD相对于电源的正向ESD脉冲测试。
（4）所有输入/输出PAD相对于电源的负向ESD脉冲测试。
二. Pin to Pin ESD测试
注解：
（1）每一个输入/输出相对于其他所有的输入/输出的正向ESD脉冲测试。
（2）每一个输入/输出相对于其他所有的输入/输出的负向ESD脉冲测试。
三. VDD to VSS ESD测试
注解：
（1）正的ESD电压出现在VDD脚，此时VSS脚接地，但所有I/O脚皆悬空。
（2）负的ESD电压出现在VDD脚，此时VSS脚接地，但所有I/O脚皆悬空。
四. Analog Pin ESD测试
在模拟IC内常有差动输入级（DifferenTIal Pair）。如OP的差动输入级的正负输入端连接到IC的Pin时，这两支输入脚要另外单独做R电放电测试，以验证该两支输入脚所连接的差动输入级会不会被静电放电所破坏。
注解：
（1）正的ESD电压出现在差动输入级的正输入脚位，此时差动输入级的负输入脚接地，其他所有I/O脚以及VDD，VSS脚皆悬空。
（2）负的ESD电压出现在差动输入级的正输入脚位，此时差动输入级的负输入脚接地，其他所有I/O脚以及VDD，VSS脚皆悬空。
