特征x射线:x射线的基本特征包括哪些？

1.x射线的基本特征包括哪些？

X线波长很短，能穿透一般可见光不能穿透的各种不同密度的物质，并在穿透过程中受到一定程度的吸收即衰减。X线的穿透力与X线管电压密切相关，所产生的X线的波长愈短，所产生的X线波长愈长，X线的穿透力还与被照体的密度和厚度相关。X线穿透性是X线成像的基础。2荧光效应：X线能激发荧光物质（如硫化锌镉及钨酸钙等），使产生肉眼可见的荧光。即X线作用于荧光物质，使波长短的X线转换成波长长的荧光，这种转换叫做荧光效应。这个特性是进行透视检查的基础。涂有溴化银的胶片，经X线照射后，感光的溴化银中的银离子（Ag+）被还原成金属银（Ag），并沉淀于胶片的胶膜内。此金属银的微粒，而未感光的溴化银，从X线胶片上被洗掉，因而显出胶片片基的透明本色。便产生了黑和白的影像。摄影效应是X线成像的基础。4电离效应：

2.X射线有哪些特性？

X射线的波长很短，可以穿过可见光不能穿过的物质，X射线波长越短，X射线肉眼看不见，但它被某些结晶物质（如铂氢化钡、钨酸钡、硫化锌镉等）吸收时，可以产生波长较长的可见光。

3.简述特征X射线产生的机理？

产生特征X射线的最简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。失去的动能（1%）将以光子的形式释放出来，形成X射线光谱的连续部分，通过增加加速电压和电子所携带的能量，就有可能使金属原子的内部电子失效。外层电子传输回内层来填充这个空穴。发射波长约为0.1纳米的光子。由于外电子跃迁所发射的能量是量子化的，所以所发射光子的波长也集中在某些部分，形成了X光谱中的特征线，特征X射线的物理特性：由于特征x射线波长短、能量高，在照射物质时，大部分x射线通过原子间隙传输，x射线穿透物质的能力取决于x射线光子的能量。x射线波长越短，光子能量越大。

4.x射线的基本特征包括哪些？

当冲击物质的带电质点或光子的能量足够大时,物质原子内层的某些电子被击出，或跃迁到外部壳层，或使该原子电离，处在较外层的电子便跃入内层以填补这个空位。

5.什么是特征X射线谱

特征X射线谱，又名标识X射线谱：当冲击物质的带电质点或光子的能量足够大时,物质原子内层的某些电子被击出，或跃迁到外部壳层，或使该原子电离，而在内层留下空位。然后，处在较外层的电子便跃入内层以填补这个空位。这种跃迁主要是电偶极跃迁，跃迁中发射出具有确定波长的线状特征X射线谱。

6.什么叫连续x射线

连续X射线是高速电子受到阳极靶原子核的库仑场的阻力减速，动能转化为X射线的能量时产生的。还有一种标识X射线。标识X射线是高速电子将靶原子的内层轨道电子碰撞出轨道后，因此又称特征X射线。标识X射线和连续X射线的激发源都是电子，X射线荧光是用一定波长的X射线照射靶原子，X射线荧光是光子。标识X射线和连续X射线，电子发射X射线，用于X射线波谱仪；X射线荧光，激发源是X射线。

7.特征X射线的谱特征

在原子的内层出现电子空位是产生特征X射线的条件，而内层电子在各能级之间跃迁是产生特征X射线的原因。受电子跃迁选择定则所限制，只有符合选择定则的两能级之间才有电子跃迁产生X射线。能引起内层电子跃迁的入射粒子的最低能量称之为吸收限。K层电子的吸收限表示为Kab，L层的电子填充K层空位，放出的光子能量为L层电子结合能(EL)与K层壳层电子的结合能(EK)之差(EL-EK)，称Kα特征X射线。若是M层电子跃迁至K层空位，放出的电子能量为M壳层电子结合能与K壳层结合能之差(EM-EK)，称Kβ特征X射线。又由于L、M电子分别处于不同的分层，如LⅢ分层电子跃迁到K层产生的能量为ELⅢ-EK的Kα1特征X射线，由LⅡ跃迁到K层产生的能量为ELⅡ-EK的Kα2特征X射线。根据不同分层将产生Kβ1、Kβ2等能量不同的特征X射线，如果原子电离形成的电子空位出现在L壳层，由M、N等外层电子充填，也可能产生M系特征谱线。在X射线谱分析中比较有用的是强度大的几条谱线：K系谱线有Kα1、Kα2、Kβ1+β3、Kβ2四条，其中Kβ1、Kβ3能量接近，特征X射线谱的精细结构比较复杂，主要谱线有Lα1、Lα2、Lβ1、Lβ2、Lγ1五条，M系主要谱线有Mα1、Mα2、Mβ、Mγ四条。各元素的特征X射线能量见附录5。原子发射的K、L和M等各谱线的强度，决定于原子各壳层电子逐出的相对几率。它将可以逐出原子所有K、L、M等壳层电子，但是几率最大的是逐出最内层的K壳层电子，其次是L层、M层电子。所以产生的特征X射线强度最大的是K谱线系，使特征X射线复杂化。K系谱线包括Kα1、Kα2、Kβ1、Kβ2、Kβ3等。并且它们之间的X射线照射量率相差很大。大致比例为I(Kα1)：I(Kα2)：I(Kβ2)=100：各谱系之间X射线强度也相差很大，每一元素的X射线谱的结构是复杂的，图4-1 原子能级及主要的K系、L系、M系特征X射线产生示意图表4-1 各谱线系内各条谱线之间的强度相对关系我们引入激发效率(ξ)来表征入射粒子的激发特性，一个入射粒子与单位面积上一个靶原子作用时，在某壳层上产生X荧光的几率。不同能量入射射线的激发效率不同。

8.如何利用特征x射线分析元素组成

波长色散X射线荧光(WDXRF)谱仪或技术就是用于分析固体和液体样品中化学成份元素组成的有效方法之一，可对各种样品中的元素进行准确和可靠的分析。简单、灵活、经济和可靠等优点使其被列入分析实验室的标准方法（如ASTM和ISO 标准）。测角仪就是改变探测器不同测量角度的机械传动部分，包含准直器、晶体、探测器。测角仪实现的就是在一定的角度范围内不同元素的测量。其特点是探测器和晶体系统可以单独转动，反射的X射线荧光由测角仪检测得到。应用已知波长λ的X射线，如Cu的Kα射线λ=1.5418Å来实验测得θ角，从而计算得到晶面间距d，2、X射线光谱分析（包括元素分析）。应用已知晶面间距d的所谓分析晶体：从而计算出特征X射线或X射线荧光的波长λ，特征X射线或X射线荧光可以由X射线源发出，也可以由X射线源照射到样品后发出次X射线或X射线荧光作为光源，再穿过分析晶体测得反射角θ，常用的分析晶体有。